熱流儀、氣流沖擊儀、高低溫?zé)崃鲀x是我公司通過(guò)十幾年來(lái)在可靠性環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備領(lǐng)域的累積，歷時(shí)兩年研發(fā)測(cè)試新推出的產(chǎn)品，并且已經(jīng)經(jīng)過(guò)客戶(hù)使用后得到認(rèn)可。

我公司僅以此設(shè)備助力中國(guó)芯，適用于各類(lèi)半導(dǎo)體芯片、內(nèi)存等行業(yè)。采用*的雙壓縮機(jī)技術(shù)，從負(fù)55度到高溫125度只需要10S鐘，大大的縮短了試驗(yàn)時(shí)間，更適合于產(chǎn)線(xiàn)上使用，提高生產(chǎn)效率。

熱流儀、氣流沖擊儀、高低溫?zé)崃鲀x采用多種工作模式：

A）2種檢測(cè)模式 Air Mode 和 DUT Mode

B) 高溫-常溫-低溫 / 高溫-低溫 / 高溫-常溫 / 低溫-常溫 / 自定義編程

熱流儀、氣流沖擊儀、高低溫?zé)崃鲀x其工作原理如下：

1，試驗(yàn)機(jī)輸出氣流罩將被測(cè)試品罩住，形成一個(gè)較密閉空間的測(cè)試腔，試驗(yàn)機(jī)輸出的高溫或低溫氣流，使被測(cè)試品表面溫度發(fā)生劇烈變化，從而完成相應(yīng)的高低溫沖擊試驗(yàn)；

2，可針對(duì)眾多元器件中的某一單個(gè)IC或其它元件，將其隔離出來(lái)單獨(dú)進(jìn)行高低溫沖擊，而不影響周邊其它器件，與傳統(tǒng)冷熱沖擊試驗(yàn)箱相比，溫變變化沖擊速率更快；

控制系統(tǒng)采用15寸超大人機(jī)介面，支持USB、LAN，可實(shí)現(xiàn)電腦手機(jī)遠(yuǎn)程操控，二種檢測(cè)模式：AIR NODE 和DUT MODE，可以手動(dòng)切換或自動(dòng)循環(huán)。適合各類(lèi)客戶(hù)多元化選擇。

專(zhuān)營(yíng)設(shè)備還有恒溫恒濕試驗(yàn)箱、高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱、氙燈老化試驗(yàn)箱、紫外線(xiàn)老化試驗(yàn)箱、三綜合試驗(yàn)箱、步入式環(huán)境試驗(yàn)室、淋雨試驗(yàn)箱、砂塵試驗(yàn)箱、鹽霧試驗(yàn)箱等